세미나
Probe Cards for Semiconductor Wafer Test
- 일시 2024-05-09 15:00 ~ 17:00
- 장소 광개토관 205
- 연사 신상훈 박사
- 소속 윌테크놀러지㈜
-프로브카드는 검사 대상 반도체 소자의 종류에 따라 매우 다양한 형태로 제작되며, 최근 급속히 진화하는 반도체 기술에 대응하기 위해 프로브카드 기술 또한 많은 변화가 이루어지고 있음.
-최신 프로브 카드의 핵심기술 트렌드, 종류 및 제조 방법에 대해 자세히 설명
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