세미나

Cross-sectional transmission electron microscopy for revealing the interface structure of 2D-based n

  • 일시 2021-11-11 16:00 ~ 19:00
  • 장소 온라인 개최
  • 연사 정후영 교수
  • 소속 울산과학기술원 반도체 소재부품 대학원

특강목적 및 기대효과 : 투과전자현미경은 재료의 구조적, 화학적, 전자적 특성을 규명하기 위한 첨단의 분석기기 및 분석방법으로 최근에는 구면수차 보정기가 장착된 첨단 장비가 개발되어 나노 물질의 원자 구조 및 화학 조성을 밝히는 데 활발히 활용되고 있음. 낮은 가속 전압에서 높은 분해능을 가지므로 2차원 소재의 구조 및 특성을 규명하여 첨단 소재 및 소자 개발을 앞당기고 있음. 이를 위해서는 전자현미경의 관찰을 위한 샘플의 준비가 필수적이며, 본 특강에서는 샘플의 준비에서부터 효과적인 관찰방법을 제시하여 첨단 소재 및 소자의 활용에 대해 살펴보고자 함.